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卧式针座的固定结构，其包括针座本体，针座引脚，固定倒勾，安装孔，该固定倒勾与该针座引脚设于该针座本体的底面，该固定倒勾中的每一固定倒勾均具有一凸结构，且该凸结构的设于与针座引脚平面垂直的方向。将固定倒勾的凸结构的设在与该针座引脚垂直的方向，使得在使用具有不同引脚的针座时，可改变固定倒勾与该固定槽的配合位置，将该针座固定于该固定槽内即可，而不需要更换PCB，提高了PCB的通用性。该固定倒勾能够在该固定槽内移动。针座采用对柔性电路板进行功能测试时，不会使柔性电路板因受外力而产生损坏，且测试效率高。贴片WAFER

近来出现的一种选择是使用同轴射频电缆安装针座，它结合了针座准确性和可重复性的功能以及用针座可及性的功能。这些针座的边缘类似于针座针座夹具——接地-信号-接地（GSG）或者接地-信号（GS）——一端带有pogo-pin针座，另一端带有典型的同轴连接器。这些新型针座可以达到40GHz，回波损耗优于10dB。针座的针距范围在800微米到1500微米之间，这些针座通常使用的终端是3.5毫米母头或2.92毫米母头同轴连接器。与针座一样，可以在特定的测试区域中设计一个影响小的焊盘端口，或者可以将针座放置在靠近组件的端子或微带传输线上。福建2.54针座针座采集针管的后端及针管大部分向后延伸并能插置在套置在针筒中的血液样本收集管的管塞中。

晶圆针座是半导体工艺线上的中间测试设备，与测试仪连接后，能自动完成对集成电路及各种晶体管芯电参数和功能的测试。随着对高性能、多功能、高速度、低功耗、小型化、低价格的电子产品的需求日益增长，这就要求在一个芯片中集成更多的功能并进一步缩小尺寸，从而大片径和高效率测试将是今后晶圆针座发展的主要方向。因此，传统的手动针座和半自动针座已经不能满足要求，取而代之的是高速度，高精度，高自动化，高可靠性的全自动晶圆针座。

孔座针座组件，包括针座和孔座，针座插入在孔座内部，在针座的侧部设有防呆柱，在孔座侧部设有与防呆柱配合的防呆槽，防呆柱为纵向设置的长方体防呆柱，防呆槽包括滑槽部以及与滑槽部连接在一起的深槽部。优点体现在:通过防呆柱及防呆槽的配合设计，使得产品在对配的过程中能够防止错误装配，有效提高预防错误装配的能力。提高了该装置的适用性，通过电机带动异形转轮转动，可以使异形转轮对活动板间歇式施加压力，通过在装置的一侧不断的将半成品夹持在传送装置上的夹持板之间。针座延伸出胶护套，针座外壳底部设有两个卡扣位。

针座是用于检测每片晶圆上各个芯片电信号，保证半导体产品品质的重要检测设备。下面我们来了解下利用针座进行在片测试的一些相关问题，首先为什么需要进行在片测试？因为我们需要知道器件真正的性能，而不是封装以后的，虽然可以去嵌，但还是会引入一些误差和不确定性。因为我们需要确定哪些芯片是好的芯片来降低封装的成本并提高产量。因为有时我们需要进行自动化测试，在片进行自动化测试成本效益高而且更快。一个典型的在片测试系统，主要包括：矢量网络分析仪，线缆，针座，针座定位器，针座，校准设备及软件，电源偏置等。针座能同时进行两个连接器针座产品的自动化组装，提高了产能。福建WAFER排针

针座利于更换检修，便于携带运输。贴片WAFER

多层定形机链条针座用针板，包括基体，开设于基体上的连接孔以及开设于基体上的两排铆接孔，铆接孔内铆接有钢针，钢针向内倾斜5~15°，其特征在于包括基体，开设于基体上的连接孔以及开设于基体上的两排铆接孔，铆接孔内铆接有钢针，钢针向内倾斜5~15°，钢针包括平头短钢针和尖头长钢针，两者交替间隔排布。钢针包括平头短钢针和尖头长钢针，两者交替间隔排布。通过对针板改进，有效防止布料与针板底面接触，防止布面污染，提高了成本率。贴片WAFER